×
۱۴۰,۰۰۰ تومان
۸۴,۰۰۰ تومان

آموزش شناسایی و تعیین ساختار نانومواد ۱

آموزش شناسایی و تعیین ساختار نانومواد ۱

هزینه آموزش
۱۴۰,۰۰۰ تومان
تخفیف ۴۰ درصدی
۸۴,۰۰۰ تومان

تعداد دانشجو
۱۱ نفر
مدت زمان
۹ ساعت و ۱۰ دقیقه
محتوای این آموزش
تضمین کیفیت
آموزش شناسایی و تعیین ساختار نانومواد ۱

در این فرادرس سعی شده است تا مهم‌ترین و کاربردی‌ترین روش‌های شناسایی ساختارهای نانو توضیح داده شود. در این آموزش انواع روش‌های مطالعه سطح مواد نانو و همچنین ساختار داخلی این مواد توضیح داده شده است که با مشاهده آن می‌توانید روش‌های مناسب برای سنتز انواع مواد نانو را پیشنهاد داده، عمیقا آن‌ها را درک کرده و به تجزیه و تحلیل آن‌ها بپردازید.

آموزش شناسایی و تعیین ساختار نانومواد ۱

تعداد دانشجو
۱۱ نفر
مدت زمان
۹ ساعت و ۱۰ دقیقه
هزینه عادی آموزش
۱۴۰,۰۰۰ تومان
در طرح تخفیف
۸۴,۰۰۰ تومان

(کسب اطلاعات بیشتر +)
محتوای این آموزش

مریم روستایی

دانشجوی دکتری تخصصی نانوشیمی

ایشان از سال 1393 نیز در دانشگاه سراسری شهید باهنر کرمان در حال تدریس هستند و یکی از استادان حق‌التدریس با ارزیابی بسیار خوب در این دانشگاه محسوب می‌شوند.

توضیحات تکمیلی

واژه نانو این روزها به شدت مورد توجه قرار گرفته و در بحث‌های علمی جایگاه ویژه‌ای برای خود باز کرده است. در این میان، این رشته در بین دانشجویان کارشناسی ارشد و دکتری محبوبیت زیادی پیدا کرده و متقاضیان زیادی هر ساله مشتاق تدریس در این رشته نوظهور هستند. در بحث نانوشیمی، روش‌های سنتز و شناسایی نانومواد تهیه شده از اهمیت بسیار بالایی برخودار است و اکثر سوالات کنکور و دروس تدریس شده در دانشگاه نیز بر مبنای همین مفاهیم هستند.

بنابراین برای هر متقاضی شرکت در کنکور ارشد و دکتری نانوشیمی و همچنین دانشجویان این رشته، یادگیری روش‌های شناسایی نانوساختارها بسیار ضروری بوده و اهمیت بسیاری دارد. در این فرادرس سعی شده است تا مهم‌ترین و کاربردی‌ترین روش‌های شناسایی ساختارهای نانو توضیح داده شود. در این آموزش انواع روش‌های مطالعه سطح مواد نانو و همچنین ساختار داخلی این مواد توضیح داده شده است که با مشاهده آن می‌توانید روش‌های مناسب برای سنتز انواع مواد نانو را پیشنهاد داده، عمیقا آن‌ها را درک کرده و به تجزیه و تحلیل آن‌ها بپردازید.

فهرست سرفصل‌ها و رئوس مطالب مطرح شده در این مجموعه آموزشی، در ادامه آمده است:
  • فصل یکم: آنالیز سطح - XPS
    • درس یکم: آشنایی با مفاهیم اولیه آنالیز سطح
    • درس دوم: طیف‌سنجی فوتوالکترونی اشعه X
    • درس سوم: آشنایی با نحوه عملکرد دستگاه XPS - بخش یکم
    • درس چهارم: آشنایی با نحوه عملکرد دستگاه XPS - بخش دوم
    • درس پنجم: بررسی مشخصات و ویژگی‌های نمونه‌های مورد مطالعه در XPS
    • درس ششم: تجزیه‌ و تحلیل طیف‌های XPS
    • درس هفتم: محدودیت‌ها و کاربردهای دستگاه XPS
  • فصل دوم: آنالیز سطح - AES و UPS
    • درس هشتم: مقدمه‌ای بر AES و UPS
    • درس نهم: تجهیزات لازم برای انجام UPS
    • درس دهم: تجهیزات AES
    • درس یازدهم: تجزیه ‌و تحلیل طیف‌های AES
    • درس دوازدهم: کاربردها و محدودیت‌های طیف‌نگار اوژه
  • فصل سوم: تکنیک‌های X-ray - تکنیک XRD
    • درس سیزدهم: مقدمه‌ای بر XRD
    • درس چهاردهم: شبکه‌های بلوری - بخش یکم
    • درس پانزدهم: شبکه‌های بلوری - بخش دوم
    • درس شانزدهم: اجزای دستگاه XRD
    • درس هفدهم: معادله شرر
    • درس هجدهم: کار با نرم‌افزار Xpert - بخش یکم
    • درس نوزدهم: کار با نرم‌افزار Xpert - بخش دوم
  • فصل چهارم: تکنیک‌های X-ray - تکنیک XRF
    • درس بیستم: طیف‌نگاری فلورسانس اشعه X
    • درس بیست‌ویکم: اجزای تشکیل‌دهنده دستگاه XRF - بخش یکم
    • درس بیست‌و‌دوم: اجزای تشکیل‌دهنده دستگاه XRF - بخش دوم
    • درس بیست‌و‌سوم: مشکلات، نقاط قوت و کاربردهای XRF - بخش یکم
    • درس بیست‌و‌چهارم: مشکلات، نقاط قوت و کاربردهای XRF - بخش دوم
  • فصل پنجم: تکنیک‌های SAXS, WAXS, XANES, EXAFS - X-ray
    • درس بیست‌و‌پنجم: تکنیک‌های X-ray
    • درس بیست‌و‌ششم: پراکندگی پرتو X با زاویه کوچک - SAXS
    • درس بیست‌و‌هفتم: پراکندگی پرتو X با زاویه پهن - WAXS
    • درس بیست‌و‌هشتم: ویژگی‌ها و نحوه عملکرد SAXS
    • درس بیست‌و‌نهم: اجزای تشکیل‌دهنده SAXS
    • درس سی‌ام: طیف‌بینی جذب پرتوی X - بخش یکم
    • درس سی‌و‌یکم: طیف‌بینی جذب پرتوی X - بخش دوم
  • فصل ششم: تکنیک‌های اسپکتروسکوپی شناسایی ساختار - NMR
    • درس سی‌و‌دوم: مقدمه‌ای بر طیف‌سنجی رزونانس مغناطیس هسته
    • درس سی‌وسوم: دستگاه‌های NMR - بخش یکم
    • درس سی‌و‌چهارم: دستگاه‌های NMR - بخش دوم
    • درس سی‌و‌پنجم: کوپلاژ اسپین - اسپین
    • درس سی‌وششم: طیف‌های NMR - بخش یکم
    • درس سی‌و‌هفتم: طیف‌های NMR - بخش دوم
  • فصل هفتم: تکنیک‌های اسپکتروسکوپی شناسایی ساختار - Raman & IR
    • درس سی‌و‌هشتم: مقدمه‌ای بر طیف‌سنجی مادون قرمز
    • درس سی‌ونهم: ارتعاشات مولکولی
    • درس چهلم: انواع دستگاه‌های مادون قرمز
    • درس چهل‌و‌یکم: اجزای دستگاه‌ها در طیف‌سنجی جذب IR - بخش یکم
    • درس چهل‌و‌دوم: اجزای دستگاه‌ها در طیف‌سنجی جذب IR - بخش دوم
    • درس چهل‌و‌سوم: اجزای دستگاه‌ها در طیف‌سنجی جذب IR - بخش سوم
    • درس چهل‌و‌چهارم: انواع پراکندگی در طیف‌سنجی رامان - بخش یکم
    • درس چهل‌و‌پنجم: انواع پراکندگی در طیف‌سنجی رامان - بخش دوم
    • درس چهل‌و‌ششم: اجزای دستگاه رامان
    • درس چهل‌وهفتم: مقایسه IR و رامان
  • فصل هشتم: تکنیک‌های اسپکتروسکوپی شناسایی ساختار - UV-Vis
    • درس چهل‌وهشتم: تابش الکترومغناطیس
    • درس چهل‌و‌نهم: روش‌های طیف‌سنجی UV-Vis
    • درس پنجاهم: اجزای دستگاه UV-Vis
    • درس پنجاه‌و‌یکم: انواع دستگاه‌ها در طیف‌بینی جذب مولکولی
  • فصل نهم: روش‌های میکروسکوپ الکترونی - میکروسکوپی با نور و الکترون
    • درس پنجاه‌و‌دوم: روش‌های تشکیل تصویر در میکروسکوپ
    • درس پنجاه‌وسوم: میکروسکوپ‌های نوری - بخش یکم
    • درس پنجاه‌و‌چهارم: میکروسکوپ‌های نوری - بخش دوم
    • درس پنجاه‌وپنجم: برهم‌کنش الکترون با ماده
    • درس پنجاه‌و‌ششم: مقایسه نور و الکترون
  • فصل دهم: روش‌های میکروسکوپ الکترونی - SEM
    • درس پنجاه‌و‌هفتم: مقدمه‌ای بر میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی - SEM
    • درس پنجاه‌و‌هشتم: عملکرد SEM - بخش یکم
    • درس پنجاه‌و‌نهم: عملکرد SEM - بخش دوم
    • درس شصتم: اجزای تشکیل‌دهنده SEM - بخش یکم
    • درس شصت‌ویکم: اجزای تشکیل‌دهنده SEM - بخش دوم
    • درس شصت‌ودوم: اجزای تشکیل‌دهنده SEM - بخش سوم
    • درس شصت‌وسوم: نمونه‌های مورد مطالعه در SEM
    • درس شصت‌وچهارم: سیستم تصویرسازی و خلا در SEM
    • درس شصت‌وپنجم: مزایا و محدودیت‌های SEM
    • درس شصت‌وششم: نمونه‌ای از تصاویر گرفته شده با SEM
  • فصل یازدهم: میکروسکوپ‌های الکترونی - TEM
    • درس شصت‌وهفتم: مقدمه‌ای بر میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری - TEM
    • درس شصت‌وهشتم: اساس کار TEM
    • درس شصت‌ونهم: پراش در TEM
    • درس هفتادم: تجهیزات میکروسکوپ الکترونی عبوری
    • درس هفتاد‌ویکم: آماده‌سازی نمونه در TEM
    • درس هفتاد‌ودوم: انوع کنتراست در TEM
    • درس هفتاد‌وسوم: کاربردها و محدودیت‌های TEM
    • درس هفتاد‌وچهارم: نمونه‌ای از تصاویر گرفته ‌شده با TEM
    • درس هفتاد‌وپنجم: تفاوت SEM و TEM
  • فصل دوازدهم: روش‌های میکروسکوپ الکترونی - آنالیز تفکیک انرژی و تفکیک طول موج
    • درس هفتاد‌وششم: تولید پرتوی X در نمونه - بخش یکم
    • درس هفتاد‌وهفتم: تولید پرتوی X در نمونه - بخش دوم
    • درس هفتاد‌وهشتم: آشکارسازهای پرتوی ایکس (EDS & WDS) - بخش یکم
    • درس هفتاد‌ونهم: آشکارسازهای پرتوی ایکس (EDS & WDS) - بخش دوم
    • درس هشتاد‌م: آشکارسازهای پرتوی ایکس (EDS & WDS) - بخش سوم
    • درس هشتاد‌ویکم: آنالیز پرتوی X نمونه‌های حجیم
    • درس هشتاد‌ودوم: آنالیز پرتوی X نمونه‌های نازک TEM
    • درس هشتاد‌وسوم: آنالیز کمی در میکروسکوپ الکترونی

مفید برای:
  • نانومواد
  • نانوفیزیک
  • نانو شیمی

پیش نیاز


آنچه در این آموزش خواهید دید:

آموزش ویدئویی مورد تائید فرادرس
فایل PDF یادداشت‌ های ارائه مدرس

نرم افزارهای مرتبط با آموزش

Xpert Highscore plus 3




پیش نمایش‌ها

۱. آشنایی با مفاهیم اولیه آنالیز سطح

توجه: اگر به خاطر سرعت اینترنت، کیفیت نمایش پایین‌تر از کیفیت HD ویدئو اصلی باشد؛ می‌توانید ویدئو را دانلود و مشاهده کنید دانلود پیش‌نمایش - حجم: ۱۰ مگابایت -- (کلیک کنید +))

۲. طیف‌سنجی فوتوالکترونی اشعه X

توجه: اگر به خاطر سرعت اینترنت، کیفیت نمایش پایین‌تر از کیفیت HD ویدئو اصلی باشد؛ می‌توانید ویدئو را دانلود و مشاهده کنید دانلود پیش‌نمایش - حجم: ۳ مگابایت -- (کلیک کنید +))

۳. آشنایی با نحوه عملکرد دستگاه XPS - بخش یکم

توجه: اگر به خاطر سرعت اینترنت، کیفیت نمایش پایین‌تر از کیفیت HD ویدئو اصلی باشد؛ می‌توانید ویدئو را دانلود و مشاهده کنید دانلود پیش‌نمایش - حجم: ۳ مگابایت -- (کلیک کنید +))

۴. آشنایی با نحوه عملکرد دستگاه XPS - بخش دوم
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
۵. بررسی مشخصات و ویژگی‌های نمونه‌های مورد مطالعه در XPS
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
۶. تجزیه‌وتحلیل طیف‌های XPS
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
۷. محدودیت‌ها و کاربردهای دستگاه XPS
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
۸. مقدمه‌ای بر AES و UPS
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
۹. تجهیزات لازم برای انجام UPS
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
۱۰. تجهیزات AES
مشاهده این پیش‌نمایش، نیازمند عضویت و ورود به سایت (+) است.
این آموزش شامل ۸۴ جلسه ویدئویی با مجموع ۹ ساعت و ۱۰ دقیقه است.
با تهیه این آموزش، می‌توانید به همه بخش‌ها و جلسات آن، دسترسی داشته باشید.

راهنمای سفارش آموزش‌ها

آیا می دانید که تهیه یک آموزش از فرادرس و شروع یادگیری چقدر ساده است؟

(راهنمایی بیشتر +)

در مورد این آموزش یا نحوه تهیه آن سوالی دارید؟
  • با شماره تلفن واحد مخاطبین ۵۷۹۱۶۰۰۰ (پیش شماره ۰۲۱) تماس بگیرید. - تمام ساعات اداری
  • با ما مکاتبه ایمیلی داشته باشید (این لینک). - میانگین زمان پاسخ دهی: ۳۰ دقیقه


اطلاعات تکمیلی

نام آموزش آموزش شناسایی و تعیین ساختار نانومواد ۱
ناشر فرادرس
کد آموزش FVCHE112
مدت زمان ۹ ساعت و ۱۰ دقیقه
زبان فارسی
نوع آموزش آموزش ویدئویی (نمایش آنلاین + دانلود)
حجم دانلود ۸۷۸ مگابایت (کیفیت ویدئو HD با فشرده سازی انحصاری فرادرس)


تضمین کیفیت و گارانتی بازگشت هزینه
توجه: کیفیت این آموزش توسط فرادرس تضمین شده است. در صورت عدم رضایت از آموزش، به انتخاب شما:
  • ۱۰۰ درصد مبلغ پرداختی در حساب کاربری شما شارژ می‌شود.
  • و یا ۷۰ درصد مبلغ پرداختی به حساب بانکی شما بازگشت داده می‌شود.


آموزش‌های پیشنهادی برای شما


نظرات

تا کنون ۱۱ نفر از این آموزش استفاده کرده اند و هنوز نظری ثبت نشده است.
دسته‌بندی موضوعی مهندسی شیمی
برچسب‌ها:
Advanced Encryption Standard | EXAFS Technique | nuclear magnetic resonance | SAXS Technique | Scanning electron microscope | Small-Angle X-ray Scattering | Transmission Electron Microscopy | UV-Vis | WAXS Technique | Wide-Angle X-ray Scattering | X-ray Fluorescence | X-ray photoelectron spectroscopy | X-ray Powder Diffraction | X-ray Technique | XANES Technique | XPert Software | آشکارسازهای پرتو X | آماده سازی نمونه در TEM | آموزش شناسایی نانومواد 1 | آموزش شناسایی نانومواد یک | آنالیز پرتو X نمونه ‌های حجیم | آنالیز پرتو X نمونه ‌های نازک TEM | آنالیز پرتوی X | آنالیز تفکیک انرژی | آنالیز شیمیایی پرتوی X | آنالیز کمی در میکروسکوپ الکترونی | اجزای تشکیل‌ دهنده SAXS | اجزای تشکیل‌ دهنده SEM | اجزای تشکیل‌ دهنده دستگاه XRF | اجزای دستگاه UV-Vis | اجزای دستگاه XRD | اجزای دستگاه رامان | اجزای دستگاه‌ ها در طیف ‌سنجی جذب IR | ارتعاشات مولکولی | اساس کار TEM | انواع پراکندگی در طیف ‌سنجی رامان | انواع دستگاه‌ ها در طیف‌ بینی جذب مولکولی | انواع دستگاه‌ های مادون قرمز | انواع کنتراست در TEM | بررسی آنالیز سطح | بررسی شبکه‌ های بلوری نانومواد | برهم ‌کنش الکترون با ماده | پراش در TEM | پراکندگی پرتوی X با زاویه پهن | پراکندگی پرتوی X با زاویه کوچک | تابش الکترومغناطیس نانومواد | تجزیه‌ و تحلیل طیف‌ های AES | تجزیه ‌و تحلیل طیف ‌های XPS | تجهیزات AES | تجهیزات لازم برای انجام UPS | تجهیزات میکروسکوپ الکترونی عبوری | تصاویر گرفته شده با SEM | تصاویر گرفته‌شده با TEM | تعیین ساختار نانومواد 1 | تفاوت SEM و TEM | تفکیک طول موج | تکنیک EXAFS | تکنیک SAXS | تکنیک WAXS | تکنیک X-ray | تکنیک XANES | تکنیک XRD | تکنیک XRF | تکنیک‌ های X-ray | تکنیک ‌های اسپکتروسکوپی شناسایی ساختار | تکنیک ‌های اسپکتروسکوپی شناسایی ساختار | تکنیک‌های X-ray | تولید پرتوی X | دستگاه‌ های NMR | روش‌ های تشکیل تصویر در میکروسکوپ | روش‌ های سنتز نانومواد | روش‌ های شناسایی نانوساختارها | روش های شناسایی نانومواد | روش ‌های طیف سنجی UV-Vis | روش ‌های مطالعه سطح مواد نانو | روش‌ های میکروسکوپ الکترونی | روش‌ های میکروسکوپ الکترونی | ساختار نانومواد یک | سنتز انواع مواد نانو | سیستم تصویرسازی در SEM | سیستم خلا در SEM | شناسایی ساختارهای نانو | شناسایی نانومواد 1 | شناسایی نانومواد یک | طیف ‌بینی جذب پرتوی X | طیف‌ بینی جذب مولکولی | طیف سنجی UV-Vis | طیف ‌سنجی جذب IR | طیف‌ سنجی رامان | طیف سنجی رزونانس مغناطیس هسته | طیف ‌سنجی فوتوالکترونی اشعه X | طیف سنجی مادون قرمز | طیف ‌نگاری فلورسانس اشعه X | طیف ‌های NMR | عملکرد SEM | کاربردهای TEM | کاربردهای XRF | کاربردهای دستگاه XPS | کاربردهای طیف ‌نگار اوژه | کوپلاژ اسپین - اسپین | محدودیت ‌های TEM | محدودیت ‌های دستگاه XPS | محدودیت ‌های طیف ‌نگار اوژه | محدودیت‌های SEM | مزایای SEM | مشخصات مورد مطالعه در XPS | مشکلات XRF | معادله شرر | مفاهیم اولیه آنالیز سطح | مقایسه IR و رامان | مقایسه نور و الکترون | مقدمه ‌ای بر AES | مقدمه ‌ای بر UPS | مقدمه ‌ای بر XRD | میکروسکوپ های الکترونی | میکروسکوپ‌ های الکترونی روبشی | میکروسکوپ ‌های الکترونی عبوری | میکروسکوپ های نوری | نحوه عملکرد SAXS | نحوه عملکرد دستگاه XPS | نرم ‌افزار XPert | نقاط قوت XRF | نمونه ‌های مورد مطالعه در SEM | نمونه ‌های مورد مطالعه در XPS | ویژگی ‌های عملکرد SAXS
مشاهده بیشتر مشاهده کمتر
×
فهرست جلسات ۸۴ جلسه ویدئویی
×