×

آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد (رایگان)

آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد (رایگان)

تعداد دانشجو
۳۹ نفر
مدت زمان
۳۱ دقیقه
هزینه آموزش
رایگان!
محتوای این آموزش
آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد (رایگان)

با توجه به محدودیت های میکروسکوپ های نوری در مطالعه دقیق ساختار ماده، امروزه میکروسکوپ های الکترونی پیشرفته که بر اساس حرکت الکترون ها عمل می کنند، مورد توجه قرار گرفته است. انجام فعالیت های تحقیقاتی با استفاده از چنین دستگاه هایی، نیازمند شناخت مشخصات، نحوه عملکرد، عوامل موثر در تشکیل و کیفیت تصویر حاصل و برطرف سازی عیوب موجود در آنالیز است. ما در این آموزش قصد داریم تا مبحث آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد را مورد بحث و بررسی قرار دهیم.

آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد (رایگان)

مدت زمان
۳۱ دقیقه
هزینه آموزش
رایگان!
مدرس
مهدی صباغیان

دانشجوی دکتری تخصصی مهندسی مواد

مهندس مهدی صباغیان، دانشجوی دکتری تخصصی مهندسی مواد در دانشگاه تهران هستند. ایشان فعال در یکی از بزرگ ترین آزمایشگاه های دانشکده مهندسی مواد، فعال در زمینه بررسی خواص مکانیکی و سوپرپلاستیسیته و بافت کریستالی مواد نوین مانند آلیاژهای منیزیم، فعال در زمینه توسعه پوشش های فلزی در سطح آلیاژهای آلومینیم و مس و روی هستند.

توضیحات تکمیلی

در دنیای حاضر، قطعات بسیار زیادی با اشکال و هندسه متفاوت وجود دارد که هرکدام از جنس معینی ساخته شده است. تعیین نوع ماده مصرفی و همچنین چگونگی حصول خواص مورد نیاز برای یک قطعه، بر عهده مهندسین مواد بوده و در این راستا از ابزارهای مختلفی استفاده می شود. با توجه به اینکه خواص قطعه مورد استفاده از جمله خواص مکانیکی، نوری، الکتریکی، شیمیایی و حرارتی وابسته به ساختمان داخلی ماده مصرفی است، لذا مشاهده ویژگی های این ساختمان حائز اهمیت است. ویژگی هایی همچون اندازه دانه، اندازه و چیدمان رسوبات فاز ثانویه در ساختار، جهت گیری دانه ها، وجود عیوبی مانند ترک و حفرات در مناطق مختلف ماده و ترکیب شیمیایی باید با استفاده از ابزارهایی مانند انواع میکروسکوپ ها مورد بررسی قرار گیرند.

با توجه به محدودیت های میکروسکوپ های نوری در مطالعه دقیق ساختار ماده، امروزه میکروسکوپ های الکترونی پیشرفته که بر اساس حرکت الکترون ها عمل می کنند، مورد توجه قرار گرفته است. انجام فعالیت های تحقیقاتی با استفاده از چنین دستگاه هایی، نیازمند شناخت مشخصات، نحوه عملکرد، عوامل موثر در تشکیل و کیفیت تصویر حاصل و برطرف سازی عیوب موجود در آنالیز است.

در این آموزش برخی از مهم ترین روش های پیشرفته آنالیز مواد مانند میکروسکوپ های الکترونی روبشی، روبشی محیطی و عبوری پراش پرتوی ایکس مورد بررسی قرار خواهد گرفت. از طرفی برای افزایش سطح دانش فراگیران، تعدادی از کاربردهای تحقیقاتی این تجهیزات بیان خواهد شد.

ما در این آموزش قصد داریم تا مبحث آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد را مورد بحث و بررسی قرار دهیم.

این آموزش رایگان بخشی از آموزش آنالیز پیشرفته مواد است. برای کسب اطلاعات بیشتر و استفاده از این آموزش بر روی این لینک (+) کلیک کنید.

فهرست سرفصل ها و رئوس مطالب مطرح شده در این مجموعه آموزشی، در ادامه آمده است:
  • میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM)
    • معرفی و کاربرد میکروسکوپ
    • مشخصات میکروسکوپ و کیفیت تصویر
    • ساختمان میکروسکوپ
    • نحوه عملکرد میکروسکوپ
    • پارامترهای موثر بر کیفیت تصویر
    • آماده سازی نمونه
    • روش های نوین تر آنالیز
    • آزمون ۲

آنچه در این آموزش خواهید دید:

برنامه آموزشی مورد تائید فرادرس
فایل PDF یادداشت‌ های ارائه مدرس




میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM)
جهت شروع مطالعه و یادگیری نیاز است بعد از ورود (+) و یا عضویت (+) بر روی دکمه «شروع یادگیری» کلیک کنید.

اطلاعات تکمیلی

نام آموزش آموزش میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی (ESEM) در آنالیز پیشرفته مواد (رایگان)
ناشر فرادرس
کد آموزش FVMME106F
مدت زمان ۳۱ دقیقه
زبان فارسی
نوع آموزش آموزش ویدئویی (نمایش آنلاین + دانلود)
حجم دانلود ۳۸ بایت (کیفیت ویدئو HD با فشرده سازی انحصاری فرادرس)



آموزش‌های پیشنهادی برای شما



نظرات

در حال حاضر، دیدگاهی برای این آموزش ثبت نشده است.
برچسب‌ها:
environmental scanning electron microscope | ESEM | FESEM | microscope | Microstructure | RD | SAD | SEM | Te | TEM | ture | آشکارسازها | آنالیز پیشرفته مواد | آنالیز ساختار مواد | آنالیز مواد | اشعه ایکس | الکترون های اوژه | الکترون های برگشتی | الکترون های ثانویه | الکترونهای برگشتی | الکرتون های اوژه | الگترون های برگشتی | الگوی پراش کیکوچی | الگوی تفرق ناحیه انتخابی | اندازه کریستال | اندیس گذاری نمودار SAD | انواع آشکارسازها | انواع روش های آنالیز مواد | انواع میکروسکوپ | اهمیت آنالیز ساختار مواد | برخورد الکترون با سطح نمونه | پارامترهای مؤثر بر کیفیت تصویر | پراش پرتو ایکس | پراش پرتوی ایکس | تعیین صفحات کریستالی | تفرق ناحیه انتخابی | تفنگ الکترونی | تولید اشعه ایکس | جذب اشعه ایکس | جریان های الکتریکی | جهت گیری دانه و مرزدانه | حد تفکیک | حرکت الکترون | خواص شیمیایی | خواص فیزیکی | خواص مکانیکی | دانه | رسوبات و فازهای ثانویه | روش های آنالیز مواد | ریزساختار مواد | ساختار داخلی مواد | ساختمان TEM | ساختمان میکروسکوپ | سطح شکست مواد | شبکه های کریستالی | شفافیت، عمق میدان، عمق فوکوس | صفحات کریستالی | طبیعت ذره – موجی الکترون | طیف الکترومغناطیس | علم مواد | فازهای ثانویه | فاصله بین صفحات کریستالی | قانون براگ | کاربرد میکروسکوپ | کاربردهای | لنز | مثال هایی کاربردی از آنالیز مواد | مرزدانه | مشخصات اشعه ایکس | مشخصات میکروسکوپ | مهندسی و علم مواد | موجی الکترون | میکروسکپ نوری | میکروسکوپ | میکروسکوپ الکترونی روبشی | میکروسکوپ الکترونی عبوری | میکروسکوپ نوری | میکروسکوپ های الکترونی | میکروسکوپ های نوری | نحوه عملکرد میکروسکوپ | نشر میدانی | نمونه TEM | نوع تفنگ الکترونی | نوع عدسی
مشاهده بیشتر مشاهده کمتر

×
فهرست جلسات ۰ جلسه ویدئویی